お知らせ

2020-12-11

お知らせ：NANOTS 2020 Best Interested Paper Award 選出のお知らせ

第40回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS 2020) Best Interested Paper Awardが、下記の通り選出されましたので、お知らせ申し上げます。

Best Interested Paper Award

Displayed item: Title、 Authors、 Affiliations　

(19)

Cross-sectional profile measurement of deep holes in three-dimensional devices by small angle x-ray scattering Y. Ito, T. Goto, and K. Omote X-ray Research Lab., Rigaku Corp.

14:45-15:10

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