ナノテスティングシンポジウム

Annual Nano Testing Symposium

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お知らせ

2016-12-06

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お知らせNANOTS 2016 Best Interested Paper Award 選出のお知らせ

第36回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS 2016) Best Interested Paper Awardが、下記の通り選出されましたので、お知らせ申し上げます。

Displayed item: Title、 Authors、 Affiliations 

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Atmospheric scanning electron microscopy for bulk material observation
Y. Ominami(a; A. Hisada(b; K. Nakahira(c; M. Nakabayashi(a; M. Shoji(a; M. Yoshihara(a, and S. Ito(a
a)Science Systems Product Div., Hitachi High-Technologies Corp.; b)R&D Group Center for Healthcare Innovation, Hitachi Ltd.; c)R&D Group Center for Production Engineering, Hitachi Ltd.