ナノテスティングシンポジウム

Annual Nano Testing Symposium

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NANOTS2018

商業展示プログラム

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商業展示レイアウト
日時
2018年11月19日(月) 13:00-17:00
2018年11月20日(火) 9:00-16:00
場所
KFCホールAnnex (3F)

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No.会社名展示内容講演
1東機通商株式会社解析プロービングシステム
2浜松ホトニクス株式会社半導体故障解析装置C4
3TOOL株式会社LAVIS-plusの連携機能C3
4株式会社アストロンNavigation system AZSAC2
5株式会社アイテスパワーデバイスの故障解析
6株式会社日立ハイテクノロジーズ高性能FIB-SEM複合装置 Ethos NX5000C10
7ハイソル株式会社ハイソル 故障解析ブース
8日本電子 株式会社日本電子 受託分析のご紹介
9キヤノンマーケティングジャパン株式会社米国Sigray社製X線分析装置 ーXRF, XAS, XRM (X線CT) ー
10エイビーム・テクノロジーズ・ジャパン 株式会社エイビーム・テクノロジーズ社製品紹介
11日本サイエンティフィック株式会社新型ドライ開封装置MP101 他各種開封装置
12丸文株式会社解析ソリューションのご提案C6
13沖エンジニアリング株式会社ロックイン発熱解析を用いた故障解析システム
14サーモフィッシャーサイエンティフィックグループ 日本エフイー・アイ株式会社FIB/SEM/TEM 解析装置、不良解析装置および回路修正装置C7,C8,C11
15株式会社インフィナイト・ソリューションズTeseda DFT解析システム & Nanotronics 3次元光学顕微鏡検査システムC1
16日本バーンズ株式会社世界最高分解能・発熱解析装置「T-Imager」
17株式会社ビーエヌテクノロジー超精密研磨装置BniシリーズC5
18東芝ナノアナリシス株式会社磁場顕微鏡による電流経路可視化&3次元X線顕微鏡 (X線CT) による3次元構造観察サービス
19RKD Asia Pacific CorporationThe Industry Leader in Semiconductor Sample Preparation Equipment
20カールツァイス株式会社高分解能・非破壊3次元故障解析
21株式会社東陽テクニカ新型走査型電子顕微鏡&収束イオンビーム装置C9
22ルネサスエンジニアリングサービス株式会社製品及び要素信頼性評価と故障解析のご紹介
23株式会社ナノテクソリューションズナノスケールでのその場実験用 TEMホルダー (DENS Solutions)
24アイトランス株式会社研磨装置 AP-1000
  • 「講演」欄は、コマーシャルセッションの講演番号を示します。