NANOTS2018
商業展示プログラム
- 日時
- 2018年11月19日(月) 13:00-17:00
2018年11月20日(火) 9:00-16:00
- 場所
- KFCホールAnnex (3F)
No. | 会社名 | 展示内容 | 講演 |
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1 | 東機通商株式会社 | 解析プロービングシステム | |
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2 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体故障解析装置 | C4 |
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3 | TOOL株式会社 | LAVIS-plusの連携機能 | C3 |
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4 | 株式会社アストロン | Navigation system AZSA | C2 |
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5 | 株式会社アイテス | パワーデバイスの故障解析 | |
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6 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 高性能FIB-SEM複合装置 Ethos NX5000 | C10 |
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7 | ハイソル株式会社 | ハイソル 故障解析ブース | |
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8 | 日本電子 株式会社 | 日本電子 受託分析のご紹介 | |
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9 | キヤノンマーケティングジャパン株式会社 | 米国Sigray社製X線分析装置 ーXRF, XAS, XRM (X線CT) ー | |
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10 | エイビーム・テクノロジーズ・ジャパン 株式会社 | エイビーム・テクノロジーズ社製品紹介 | |
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11 | 日本サイエンティフィック株式会社 | 新型ドライ開封装置MP101 他各種開封装置 | |
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12 | 丸文株式会社 | 解析ソリューションのご提案 | C6 |
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13 | 沖エンジニアリング株式会社 | ロックイン発熱解析を用いた故障解析システム | |
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14 | サーモフィッシャーサイエンティフィックグループ 日本エフイー・アイ株式会社 | FIB/SEM/TEM 解析装置、不良解析装置および回路修正装置 | C7,C8,C11 |
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15 | 株式会社インフィナイト・ソリューションズ | Teseda DFT解析システム & Nanotronics 3次元光学顕微鏡検査システム | C1 |
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16 | 日本バーンズ株式会社 | 世界最高分解能・発熱解析装置「T-Imager」 | |
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17 | 株式会社ビーエヌテクノロジー | 超精密研磨装置Bniシリーズ | C5 |
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18 | 東芝ナノアナリシス株式会社 | 磁場顕微鏡による電流経路可視化&3次元X線顕微鏡 (X線CT) による3次元構造観察サービス | |
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19 | RKD Asia Pacific Corporation | The Industry Leader in Semiconductor Sample Preparation Equipment | |
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20 | カールツァイス株式会社 | 高分解能・非破壊3次元故障解析 | |
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21 | 株式会社東陽テクニカ | 新型走査型電子顕微鏡&収束イオンビーム装置 | C9 |
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22 | ルネサスエンジニアリングサービス株式会社 | 製品及び要素信頼性評価と故障解析のご紹介 | |
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23 | 株式会社ナノテクソリューションズ | ナノスケールでのその場実験用 TEMホルダー (DENS Solutions) | |
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24 | アイトランス株式会社 | 研磨装置 AP-1000 | |
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- 「講演」欄は、コマーシャルセッションの講演番号を示します。
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